真空鍍膜厚度測量儀 真空鍍膜(mo)測(ce)厚儀 厚度測(ce)試儀*

規格：DMT-E

關鍵字：厚度測量(liang)儀,真空鍍(du)膜測(ce)(ce)厚(hou)儀,厚(hou)度測(ce)(ce)試儀,金屬鍍(du)層測(ce)(ce)厚(hou)儀,厚(hou)度測(ce)(ce)試儀

品(pin)牌：sumspring三泉中石

真空(kong)(kong)鍍(du)(du)膜(mo)(mo)是指在(zai)(zai)高真空(kong)(kong)的(de)條件下加熱金(jin)屬(shu)或非(fei)金(jin)屬(shu)材料，使其(qi)蒸發并凝結于鍍(du)(du)件（金(jin)屬(shu)、半導體或絕緣體）表面而形(xing)成薄膜(mo)(mo)的(de)一(yi)種方法，例(li)如，真空(kong)(kong)鍍(du)(du)鋁、真空(kong)(kong)鍍(du)(du)鉻等，都是工(gong)業中比較受(shou)歡迎的(de)鍍(du)(du)膜(mo)(mo)方法。但是，在(zai)(zai)真空(kong)(kong)鍍(du)(du)膜(mo)(mo)過程中，不同的(de)產品(pin)對鍍(du)(du)膜(mo)(mo)厚度的(de)要求也(ye)是不一(yi)樣的(de)，那么，如何對真空(kong)(kong)鍍(du)(du)膜(mo)(mo)的(de)厚度進行測量呢？

濟南三(san)泉(quan)中石生產研發的DMT-E真空鍍膜厚度測量儀適(shi)用于各種(zhong)真空鍍膜、鍍鋁(lv)薄膜、鍍鋁(lv)紙測試電阻值、均勻度、厚(hou)度值的(de)測試，滿足(zu)GB/T 15717 。該儀器(qi)微電腦控制，查(cha)看數據直觀(guan)方便，廣受客戶的青睞。

技術特(te)征

1.微電腦(nao)控制、LCD液晶顯示、PVC操作面(mian)板(ban)，方便用戶快速、直觀(guan)的查看檢(jian)測數(shu)據和

結果 ；

2.配置微型打印機，快速打印方塊電阻值、厚(hou)度值、均勻度 ；

3.數(shu)據實時(shi)顯示電阻(zu)值、厚度值 ；

4.試驗結果記(ji)憶功能,方(fang)便用戶查(cha)詢 ；

5.溫度顯示功(gong)能 ；

6.高精(jing)度(du)接觸式測量。

技(ji)術參數               

厚度測量范圍：厚(hou)度50-570Å              ; 

方塊(kuai)電阻(zu)測量范圍(wei) ：0.5-5Ω               

方塊電阻測量精度 ： ±1%               

樣品尺寸 ：100×100mm               

夾樣精度 :±0.1mm               

測(ce)溫范圍 : 0～50℃，精度±1℃               

外形尺寸(cun) : 370mm×330mm×450mm （長(chang)寬高）               

重    量 : 19kg               

工(gong)作溫(wen)度 : 23℃±2℃                              

工作電源 : 220V 50Hz