GB/T15717鋁膜測厚儀
簡要描述:DMT-E GB/T15717鋁(lv)膜測厚(hou)儀是濟南三泉中石(shi)實驗儀器根據(ju)GB/T15717《真空(kong)金(jin)屬(shu)鍍(du)層厚(hou)度測試方(fang)法---電(dian)(dian)阻法》研發(fa)生產的實驗儀器,適用于(yu)各種(zhong)鍍(du)鋁(lv)薄膜、鍍(du)鋁(lv)紙測試電(dian)(dian)阻值、均勻(yun)度、厚(hou)度值的測試。
產品型號(hao): DMT-E
所屬分類:滿足GB/T 15717金(jin)屬鍍(du)層厚度(du)儀(yi)
更(geng)新時間:2023-05-29
廠商性質:生產廠家
GB/T15717鋁膜測厚儀 金(jin)屬鍍層測厚(hou)儀
規格:DMT-E
品牌(pai):sumspring三泉中(zhong)石
關鍵(jian)字(zi):鋁(lv)膜測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi),真空鍍(du)(du)(du)膜厚(hou)(hou)度(du)測(ce)(ce)量(liang)儀(yi),真空鍍(du)(du)(du)鋁(lv)薄(bo)膜厚(hou)(hou)度(du)測(ce)(ce)試儀(yi),金(jin)屬(shu)鍍(du)(du)(du)層(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi),鍍(du)(du)(du)鋁(lv)膜鋁(lv)層(ceng)厚(hou)(hou)度(du)測(ce)(ce)量(liang)儀(yi),鍍(du)(du)(du)鋁(lv)薄(bo)膜電阻測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)
DMT-E GB/T15717鋁膜測厚儀(yi)是(shi)濟(ji)南三泉中石實驗儀器根據(ju)GB/T15717《真空金屬(shu)鍍(du)層(ceng)厚度測試(shi)方法---電阻法》研發生(sheng)產的實驗(yan)儀器,適用于各種鍍(du)鋁薄膜、鍍(du)鋁紙測試電(dian)阻(zu)值(zhi)、均勻(yun)度(du)、厚(hou)度(du)值(zhi)的測試。
技術(shu)特征
1.微電腦控(kong)制、LCD液晶(jing)顯示(shi)、PVC操作面板,方便用戶快(kuai)速、直觀的查看檢測數據(ju)和
結果(guo) 。
2.配置微型打(da)印機,快速打(da)印方塊電(dian)阻值、厚度值、均勻度 。
3.數據實時顯示(shi)電阻值、厚度值 。
4.試驗結果記憶功能(neng),方便(bian)用戶查詢 。
5.溫(wen)度顯示功能。
6.高精(jing)度(du)接觸式測量。
技(ji)術參數
厚度測量范圍(wei) 厚度50-570Å
方塊電阻(zu)測量范圍 0.5-5Ω
方(fang)塊電阻測量(liang)精度(du) ±1%
樣品(pin)尺寸 100×100mm
夾樣精度 ±0.1mm
測溫(wen)范圍 0~50℃,精度±1℃
外形尺寸(cun) 370mm×330mm×450mm (長寬高(gao))
重 量 19kg
工作溫度 23℃±2℃
工作電源(yuan) 220V 50Hz