食品用鋁箔紙鍍鋁層厚度/均勻度測試儀 DMT-E
由于真(zhen)(zhen)空(kong)鍍(du)(du)鋁薄(bo)膜(mo)上的(de)鍍(du)(du)鋁層(ceng)(ceng)非常薄(bo),因(yin)此(ci)不(bu)能用(yong)常規的(de)測(ce)厚儀器檢(jian)測(ce)其厚度(du)。由國家(jia)包裝產品質量監督檢(jian)驗中心(濟南)起草的(de)《 GB/T 15717-1995真(zhen)(zhen)空(kong)金屬(shu)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)厚度(du)測(ce)試方法(fa)(fa)--電(dian)阻法(fa)(fa)》于1996年(nian)頒布,詳細介紹了(le)如(ru)何檢(jian)測(ce)絕(jue)緣(yuan)軟基(ji)材表(biao)面的(de)真(zhen)(zhen)空(kong)金屬(shu)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)厚度(du)的(de)測(ce)試方法(fa)(fa)。電(dian)阻法(fa)(fa)檢(jian)測(ce)鍍(du)(du)鋁層(ceng)(ceng)的(de)厚度(du)用(yong)表(biao)面電(dian)阻來表(biao)示(shi),單位是Ω/□,數值(zhi)越(yue)(yue)大(da)說明鍍(du)(du)鋁層(ceng)(ceng)厚度(du)越(yue)(yue)薄(bo),一般真(zhen)(zhen)空(kong)鍍(du)(du)鋁薄(bo)膜(mo)的(de)表(biao)面電(dian)阻值(zhi)為1.0-2.5Ω/□。
食品用鋁箔紙鍍鋁層厚度/均勻度測試儀 測試原理:
鋁是導電金屬,通過測試規定面積內試樣的電阻值,和一定溫度下的鋁的導電率,計算出試樣的鍍鋁層厚度。
儀器試驗步驟
1.將金屬鍍層測量儀與試樣放置在GB2918規定的23±2℃.,45%-55%RH環境中放置4h后測量。
2.每次測量前用無水乙醇擦拭儀器的測量頭。
3.將試樣平放在測量儀的橡膠板上,使測量頭與金屬鍍層接觸良好。
4.每次測量前儀器必須校零。
5.測量試樣的電阻值。
測試的實驗結果自動顯示打印金屬鍍層的方塊電阻、金屬鍍層厚度和均勻度。
檢測產品
主要參數
厚度測量范圍:厚度50-570?
方塊電阻測量范圍:0.5-10Ω
方塊電阻測量誤差:±1%
樣品尺寸:100×100mm
夾樣誤差:±0.1mm
測溫范圍:0~50℃,精度±1℃
外形尺寸:370mm×330mm×450mm (長寬高)
重量:19kg
更多詳(xiang)情,那個咨(zi)詢濟(ji)南三泉中石業務(wu)部(bu)王海燕,,.