桶裝(zhuang)薯片包裝(zhuang)的鋁箔層(ceng)厚(hou)度檢測方(fang)案三泉中石金屬鍍層(ceng)測厚(hou)儀(yi)

摘(zhai)要(yao)：塑料(liao)(liao)薄(bo)膜或紙張表面(mian)（單面(mian)或雙面(mian)）鍍(du)上(shang)一層極薄(bo)的(de)(de)金屬鋁即成為鍍(du)鋁薄(bo)膜，它廣泛地用來代替鋁箔復合(he)材(cai)料(liao)(liao)如鋁箔/塑料(liao)(liao)、鋁箔/紙等(deng)(deng)使(shi)用。隨著科技(ji)的(de)(de)發(fa)展(zhan)真(zhen)空蒸鍍(du)金屬薄(bo)膜的(de)(de)使(shi)用越來越廣泛，主要(yao)用于(yu)風味食品、農產品的(de)(de)真(zhen)空包裝，以(yi)及藥品、化妝品、香煙的(de)(de)包裝。另外，鍍(du)鋁薄(bo)膜也大(da)量用作印刷中的(de)(de)燙金材(cai)料(liao)(liao)和商標標簽材(cai)料(liao)(liao)等(deng)(deng)。

關鍵詞：鍍鋁薄膜 鋁箔層厚度 金屬鍍層測(ce)厚儀

一.意義：包裝(zhuang)中的(de)(de)鋁(lv)箔層可以(yi)起到避光、防潮的(de)(de)作用(yong)，而(er)鋁(lv)箔層的(de)(de)厚度(du)和均勻度(du)直接(jie)影響到其(qi)具(ju)備的(de)(de)優良(liang)性能，降低氣密性，減少保質(zhi)期(qi)，從而(er)影響到包裝(zhuang)內(nei)容(rong)物的(de)(de)產品質(zhi)量，進而(er)影響到產品的(de)(de)品質(zhi)。

二.檢測方法：電阻法。根據R=ρL/S（R電(dian)(dian)阻、S截面積、L長度、ρ電(dian)(dian)阻率）可知L=RS/ρ，從(cong)而間接測出金(jin)屬(shu)鍍層的厚度。

三.試驗(yan)樣(yang)品：桶裝薯片的外(wai)包裝

三泉中石金屬鍍層測厚儀檢測樣品

四.試驗設(she)備：三泉中石金屬鍍層測厚儀(yi)DMT-E

三(san)泉中石金屬鍍層測(ce)厚儀(yi)DMT-E

五.試驗過程：

1.將金屬鍍層測量儀與試樣放置在GB2918規定的23±2℃.，45%-55%RH環境中放置4h后測量。
2.每次測量前用無水乙醇擦拭儀器的測量頭。
3.將試樣平放在測量儀的橡膠板上，使測量頭與金屬鍍層接觸良好。
4.每次測量前儀器必須校零。
5.測量試樣的電阻值。

六(liu).試(shi)驗結果(guo)：測試(shi)的(de)實(shi)驗結果(guo)自動顯示(shi)打印金(jin)屬鍍(du)層的(de)方塊電(dian)阻、金(jin)屬鍍(du)層厚度和(he)均勻度。

七.總結(jie)：由于真空(kong)鍍(du)鋁(lv)薄膜(mo)上的鍍(du)鋁(lv)層非常薄，因此不能用常規的測(ce)(ce)厚儀器檢測(ce)(ce)其厚度。數值(zhi)越大說明鍍(du)鋁(lv)層厚度越薄，一般真空(kong)鍍(du)鋁(lv)薄膜(mo)的表(biao)面電(dian)阻值(zhi)為1.0－2.5Ω/□。