微泄漏密封性測試儀-數據可追溯

發布時間： 2024-01-04　　點擊次數： 25次

微泄漏密封性測試儀-數(shu)據可追溯

真空(kong)衰減法是一種無損、定量的檢測非多(duo)孔(kong)(kong)、剛性或柔性包裝(zhuang)(zhuang)泄漏(lou)的方法(fa)。具(ju)有(you)多(duo)孔(kong)(kong)成分的包裝(zhuang)(zhuang)，例如具(ju)有(you)多(duo)孔(kong)(kong)蓋(gai)材(cai)料(liao)的托(tuo)盤，也可以通過掩蔽多(duo)孔(kong)(kong)包裝(zhuang)(zhuang)成分的真空(kong)衰減來測試(shi)。

為(wei)了進行測(ce)(ce)試(shi)(shi)，首先將(jiang)測(ce)(ce)試(shi)(shi)樣品(pin)放(fang)置在(zai)與(yu)泄(xie)漏測(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)(xi)統氣動(dong)連接的緊密配(pei)合的排放(fang)測(ce)(ce)試(shi)(shi)室(shi)中，泄(xie)漏測(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)(xi)統配(pei)備有外部真空(kong)(kong)源。測(ce)(ce)試(shi)(shi)室(shi)必須設計成包含測(ce)(ce)試(shi)(shi)包。帶有可移動(dong)或柔性部件的測(ce)(ce)試(shi)(shi)樣品(pin)需要(yao)適當的工具來(lai)分(fen)(fen)別限制這(zhe)些(xie)部件的移動(dong)或膨脹。具有多(duo)孔(kong)組分(fen)(fen)的樣品(pin)需要(yao)掩蔽多(duo)孔(kong)材料。在(zai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)開始時，將(jiang)測(ce)(ce)試(shi)(shi)室(shi)加(jia)上測(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)(xi)統死區排空(kong)(kong)一段預定的時間。

測(ce)試所選(xuan)擇的(de)目標真空(kong)度是根據評(ping)估的(de)測(ce)試樣本(ben)類型預先確定的(de)。然后(hou)將(jiang)真空(kong)源與(yu)測(ce)試系(xi)統(tong)隔離(li)。

在(zai)短暫系(xi)統平衡之后，使用絕對或差(cha)壓傳(chuan)感器(qi)在預定的時間長度(du)內監測腔體內壓力的(de)上升(即，真空衰減)。超過使用負控制建立的預(yu)定通過/失效極限的壓(ya)力(li)增(zeng)加表明容器泄漏(lou)。可(ke)參(can)考(kao)ASTM F2338。  

應用

1. 可測試無孔(kong)、剛性或柔(rou)性包裝，或具有多孔(kong)部件的包裝。

2. 可以測(ce)試(shi)包含(han)氣體、液體和(he)/或(huo)固體材料的包裝：當暴(bao)露于測試真空條(tiao)件(jian)時，具(ju)(ju)有非固定部件(jian)的柔性包裝或(huo)包裝需(xu)要工(gong)具(ju)(ju)來分別限制(zhi)包裝的膨(peng)脹或(huo)移(yi)動。工(gong)具(ju)(ju)化使柔性封裝密封應力最(zui)小化，并保持在泄漏(lou)路徑上的一致的封裝體積和壓差條(tiao)件(jian)。

帶有多孔(kong)成(cheng)(cheng)分的包裝(zhuang)可以(yi)通過(guo)(guo)使用特殊工(gong)具或阻塞輔助(zhu)物(wu)來掩蔽多孔(kong)成(cheng)(cheng)分來測試，以(yi)使穿過(guo)(guo)多孔(kong)成(cheng)(cheng)分的氣流(liu)最小化。氣體頂(ding)空(kong)必須在大氣壓(ya)下或在顯著大于測試真空(kong)條件(jian)的壓(ya)力下。