薄膜(mo)(mo)(mo)測(ce)厚(hou)儀，簡單點(dian)來(lai)說(shuo)就是被使用來(lai)作材料(liao)厚(hou)度(du)檢測(ce)的，主要被使用在塑料(liao)薄膜(mo)(mo)(mo)、金屬箔片等材料(liao)上，隨著行(xing)業需求的加深，薄膜(mo)(mo)(mo)測(ce)厚(hou)儀得到了快速發展，本文主要介紹接(jie)觸式薄膜(mo)(mo)(mo)測(ce)厚(hou)儀和非(fei)接(jie)觸式測(ce)厚(hou)儀的區別。

    什么是接觸式薄膜測厚儀?

    整(zheng)個(ge)機體(ti)結構設(she)(she)計采用了機械接觸式(shi)測(ce)量方式(shi)，在(zai)(zai)標準(zhun)配(pei)置上(shang)主要(yao)有主機、微型打印機以及通(tong)信電纜(lan)等相關設(she)(she)備(bei)，同時在(zai)(zai)符合生產標準(zhun)的(de)(de)(de)基(ji)礎上(shang)，遵(zun)守設(she)(she)備(bei)使用的(de)(de)(de)規范性和(he)準(zhun)確性，從而確保(bao)設(she)(she)備(bei)在(zai)(zai)使用過程中(zhong)具備(bei)良好(hao)的(de)(de)(de)測(ce)試性能。

    什么是非接觸式薄膜測厚儀?

    相對于接(jie)觸式(shi)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀來(lai)說(shuo)，非接(jie)觸式(shi)在(zai)兩(liang)個方面有一(yi)定優勢，一(yi)者是(shi)(shi)設備使用(yong)上，變得(de)更加方便簡單，被測(ce)(ce)(ce)物不需(xu)要(yao)直(zhi)接(jie)觸碰監測(ce)(ce)(ce)點(dian)就(jiu)可以實現厚(hou)度(du)(du)測(ce)(ce)(ce)量，而不會影(ying)響到厚(hou)度(du)(du)測(ce)(ce)(ce)量值的度(du)(du)。二者是(shi)(shi)精度(du)(du)率的改(gai)善(shan)上，對一(yi)些容(rong)易形變的被測(ce)(ce)(ce)物，如紙張或者是(shi)(shi)薄膜在(zai)測(ce)(ce)(ce)試(shi)時所產生的精度(du)(du)率影(ying)響將越來(lai)越低;

    兩者之間存在的區別：

    1、應用范圍不(bu)同

    接觸式(shi)(shi)薄膜測(ce)厚(hou)儀在使用(yong)中主(zhu)要(yao)是針對(dui)(dui)在符合(he)量(liang)(liang)程范圍以(yi)(yi)(yi)內的薄膜、隔膜以(yi)(yi)(yi)及紙張等非(fei)金(jin)屬(shu)(shu)材(cai)(cai)料(liao)實現(xian)(xian)厚(hou)度(du)測(ce)量(liang)(liang);而(er)非(fei)接觸式(shi)(shi)薄膜測(ce)厚(hou)儀除(chu)了對(dui)(dui)非(fei)金(jin)屬(shu)(shu)材(cai)(cai)料(liao)實現(xian)(xian)厚(hou)度(du)測(ce)量(liang)(liang)以(yi)(yi)(yi)外，同(tong)時還可以(yi)(yi)(yi)對(dui)(dui)金(jin)屬(shu)(shu)箔片實現(xian)(xian)測(ce)量(liang)(liang)，在應用(yong)上更加具(ju)有廣泛性(xing);

    2、測量原(yuan)理不(bu)同

    接觸(chu)式薄膜測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)在(zai)使用(yong)(yong)中(zhong)通(tong)過自動和手動的相互協助實現(xian)(xian)有效地(di)控制，利用(yong)(yong)配置標準量塊起到(dao)的作用(yong)(yong)，確保測(ce)(ce)試(shi)數據(ju)的一(yi)致(zhi)性。非接觸(chu)式測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)在(zai)其使用(yong)(yong)中(zhong)，主要是利用(yong)(yong)激光(guang)(guang)傳(chuan)感器實現(xian)(xian)厚(hou)(hou)度測(ce)(ce)量，將被測(ce)(ce)物放在(zai)兩個激光(guang)(guang)傳(chuan)感器的中(zhong)間，為避免測(ce)(ce)試(shi)過程中(zhong)出(chu)(chu)現(xian)(xian)晃動，需(xu)要將傳(chuan)感器固定在(zai)支架上(shang)，另外未確保測(ce)(ce)量數據(ju)的性，還(huan)需(xu)要檢(jian)查(cha)傳(chuan)感器發出(chu)(chu)的激光(guang)(guang)是否對準同一(yi)個點(dian)，確認檢(jian)查(cha)無誤之(zhi)后，便(bian)可以采樣檢(jian)查(cha).

    濟南三泉(quan)(quan)中(zhong)石實驗儀器有限公司研發生產的(de)CHY-U屬(shu)于(yu)機械接觸式(shi)薄膜測厚儀，又稱為薄膜厚度測量儀，如果你想要進一步(bu)了(le)解的(de)話，可以通過三泉(quan)(quan)中(zhong)石咨詢。